Modelo XRF-T
SGM XRF-T FLUORESCENCIA DE RAYOS X COMBINADA CON TRANSMISIÓN
La mejor solución y conveniente para clasificar METALES PESADOS, así como METALES LIGEROS.
Patente N° 102022000005012
Especificaciones técnicas
SGM XRF-T es especialmente adecuado para operadores con cantidades pequeñas y medianas de material para procesar; ya que con un solo SGM XRF-T, pueden ahorrar la inversión más cara de dos clasificadores separados XRT + XRF.
Los metales se pueden clasificar con una recuperación superior al 90% y una pureza superior al 98%.
- Condiciones operativas: En interior o exterior si el techo está cubierto y con temperaturas de 5°C a 35°C / 41°F a 95°F.
- Nivel de radiación de rayos X: <1 µGy/h a 5cm/2”.
- Capacidad: En función de la aplicación, el porcentaje de piezas de material a clasificar, su tamaño y peso medio.
- Compresor de aire: Especificaciones basadas en la cantidad y las características del material a clasificar.
Productos destacados
- Software de autoaprendizaje.
- Diseño extremadamente robusto para adaptarse al uso industrial
- Software SGM diseñado a medida según la aplicación específica del cliente.
Se recomienda que el cliente configure una conexión a internet para el SGM XRF-T, lo que permitirá a los técnicos de SGM realizar actualizaciones de software, nuevas configuraciones y intervenciones de servicio de forma remota.
La tecnología
A diferencia de la tecnología de transmisión de rayos X, la tecnología de fluorescencia de rayos X no es una tecnología de imagen, lo que significa que no produce imágenes de las piezas individuales de metal procesadas, sino que indica la presencia, la concentración y la naturaleza de los metales pesados.
El XRF requiere una tecnología adicional de “imagen” para poder relacionar la información obtenida por el XRF con las piezas individuales que se están analizando y que, a su vez, producen un objetivo sobre el que disparar el sistema de rechazo neumático.
Los clasificadores tradicionales de fluorescencia de rayos X funcionan en combinación con cámaras o escáneres láser 3D. Esta combinación proporciona información de imágenes sobre la forma de las piezas individuales procesadas, pero no sobre la naturaleza química de su contenido interior.
El SGM XRF-T patentado responde a la limitación de las tecnologías de imagen única añadiendo a la imagen de las piezas individuales, información sobre la composición de su contenido interior.
El SGM XRF-T identifica y clasifica el aluminio con metales pesados en su interior o adheridos a éste.
Beneficios del SGM XRF-T
Uso de la última tecnología XRF para la separación de metales pesados (Cu, Zn, Cr, Pb), incluyendo aleaciones metálicas como el latón, el bronce y el acero inoxidable de la serie 316 a partir de la serie 306 y 304.
Uso de la última tecnología XRT para separar el aluminio forjado de los metales pesados, así como de las aleaciones ligeras de magnesio (principal aditivo de Al) y las aleaciones pesadas de aluminio fundido (principal aditivo de Cu y/o Zn).
Uso de una fuente de rayos X más potente para superar mejor las posibles imprecisiones en el análisis XRF derivadas del revestimiento de pintura y/o la presencia de polvo en el material.
Beneficios exclusivos
Capacidad para identificar las roturas de aluminio y separarlas junto con los metales pesados.
Un único separador con capacidad para separar metales ligeros utilizando la tecnología XRT y la separación de metales pesados combinando las tecnologías XRT y XRF. Cuando se utiliza sólo el XRF también para los metales ligeros, el XRF considera como metales ligeros todo lo que es diferente de los metales pesados, lo que no es exacto, ya que el material entrante todavía puede contener roturas de aluminio y contaminantes no metálicos residuales.
El uso de XRT para metales ligeros es también la solución más productiva debido a la mayor resolución que presenta la tecnología XRT frente al XRF.
Principio operativo de XRF-T
TRANSMISIÓN DE RAYOS X
La fuente primaria de los rayos X emite radiaciones que pueden ser absorbidas total, parcialmente o muy poco por los elementos individuales que bombardean. El nivel de absorción depende de la densidad y el grosor de cada elemento químico. Al medir la radiación residual que atraviesa una pieza con un banco doble de sensores XRT de diferentes energías, es posible identificar la densidad de una pieza independientemente de su forma.
El SGM XRF-T combina en un solo clasificador, dos tecnologías utilizando una fuente de rayos X y ambos sensores XRF y XRT.
FLUORESCENCIA DE RAYOS X
Una fuente de rayos X emite fotones de alta energía llamados radiaciones ionizantes que mueven los electrones de las piezas de los átomos que bombardean de un nivel orbital de energía a otro. Los átomos se denominan excitados, lo que dura poco tiempo, ya que la naturaleza los devuelve a su configuración estable de menor energía original. Los fotones emitidos por la fuente se denominan “haz primario de rayos X”.
En el paso entre los dos niveles de energía, los átomos emiten un fotón con energía igual a la diferencia de las energías de los dos niveles, excitado y estable. El proceso de emisión de este fotón se llama fluorescencia y el nivel de energía dado por la diferencia de las dos energías es específico de cada elemento químico. Los metales pesados se caracterizan por tener fotones de fluorescencia con energías tales que pueden ser detectados por sensores específicos de XRF (SDD) que identifican su naturaleza química y su concentración.
Clientes que se beneficiarían de esta tecnología combinada
El SGM XRF-T es especialmente adecuado para empresas con cantidades pequeñas y medianas de material que utilizan.
Un clasificador de rayos X que combina las tecnologías XRT y XRF frente a una mayor inversión en dos clasificadores separados.
