X-RAY FLUORESCENZA CON BACK SCATTERING
Una nuova tecnologia per la separazione delle leghe di alluminio.
In attesa di brevetto: 102022000005489
Il Back Scattering
Il fenomeno del Back Scattering è un altro fenomeno fisico sempre legato all’interazione dei fotoni X con gli atomi del materiale. A differenza della fluorescenza, si manifesta come un rumore di fondo nell’analisi spettrografica, una distribuzione continua, di intensità minore ma su tutto lo spettro di energie misurate.
L’analisi standard ottenuta attraverso il classico separatore XRF non permette di identificare in maniera precisa questa componente di fondo a causa della distanza pezzo-sensore troppo elevata.
I segnali di Back Scattering, anch’essi caratteristici della composizione chimica del materiale analizzato, e, combinati con l’analisi dei picchi di fluorescenza, consentono un’identificazione più accurata di metalli pesanti e soprattutto il riconoscimento della lega di alluminio 5000 e 6000.
COSA FA LA XRF-BS
Separazione di rottami di alluminio nelle sue diverse serie di leghe compresa la 5000 dalla 6000.
Vantaggi dell’SGM XRF-BS rispetto al LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy):
Entrambe le tecnologie effettuano un’analisi di superficie. Nonostante questo, la penetrazione della radiazione X nel materiale nel caso della XRF-BS è molto maggiore
(centinaia di micron) rispetto al laser LIBS (decine di micron). Questo permette al sistema XRF-BS di essere più performante su materiale con superfici critiche (verniciature, sporco..), come nel caso del rottame.
La modalità di analisi della tecnologia XRF-BS prevede un irraggiamento continuo del pezzo e, di conseguenza, una raccolta di informazioni più precisa e un’analisi più rappresentativa dell’intero pezzo.
La tecnologia LIBS prevede un’analisi discontinua a spot, come se il pezzo subisse una scansione in più punti.
Contrariamente alla LIBS, la continuità di analisi e l’assenza di vincolo per la lunghezza focale, rendono l’efficienza della XRF-BS indipendente dalla forma del pezzo.
L’analisi della LIBS risente della possibile presenza di umidità sul materiale, mentre la XRF-BS è indipendente da esso.
Capacità su rottame di alluminio: frazione 30 mm – 120 mm/1¼” – 5”: > 2 tonnellata all’ora per modulo.
VANTAGGI DELLA XRF-BS RISPETTO ALLA LIBS
(Laser Induced Breakdown Spectroscopy).
Più performante su superfici critiche (verniciatura, sporco, ecc.) grazie ad analisi più approfondite.
Maggiore precisione grazie all’analisi continua rispetto alla LIBS che esegue una microanalisi a spot.
